石墨?GR)中的杂质测定的应用方?ICP-AES法)
引言
石墨?GR)由于其独特的微观结构使其具有优异的光学、电学和力学等性能,被广泛应用于材料化工、电化学、超级电容器、纳米电子器件及生物医药等领域。但GR在制备过程中引入的杂质元?主要为过渡金属和硫)会大大影响其优异性能,从而制约其发展,因此,准确测量GR中的杂质元素含量具有非常重要的意义。GR的制备方法包括物理法和化学法两大类,而化学法中大多数GR是由原材料经过催化剂催化合成的,这些催化剂一般是金属(Fe、Co、Mo、Mn?催化剂,材料制备过程中会通过酸(例如硫酸等)洗等纯化步骤除去催化剂颗粒,但仍然不可避免的会有金属或S元素残留,因此GR的元素组成是碳和少量的杂质金属或S元素,而这些残留元素会对GR的各方面性能产生正面的或负面的影响,因此杂质元素含量的准确测量尤为重要、/p>
关键诌/b>:杂质元素 石墨?nbsp; 美析ICP-AES
仪器及试剁/b>
美析ICP-6810全谱直读电感耦合等离子体发射光谱?/span>
硝酸 (优级纯(/p>
双氧?nbsp; 电子?ge;30%
硫酸(优级纯(/p>
高氯?nbsp;(优级纯(/p>
盐酸 (优级纯(/p>
曲拉通X-100 分子生物学级
乙醇 (分析纯(/p>
硝酸?nbsp;(分析纯(/p>
无灰滤纸 定量(Ash<0.006%)
高氯酸镁 (化学纯(/p>
Fe、S、Co、Mn和Ni各元素的GBW标液



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